12月12日，大连创锐光谱科技有限公司（下文简称“创锐光谱”）官微发文称，公司近日在碳化硅（SiC）衬底晶圆位错缺陷的无损光学检测技术方面取得突破性进展，并将同步推出SiC衬底晶圆位错无损检测专用设备:SIC-SUB-9900。
据介绍，该设备基于瞬态激发和散射光谱原理，采用大面... [详内文]
采用AI、识别率达90%，创锐光谱SiC设备公司获新突破 |
| 作者 huang, Mia|发布日期 2023 年 12 月 12 日 17:42 | 分类 企业 |